用误差校正石英晶振单元的杂散谐振

使用误差校正石英晶振单元的杂散谐振

所有电子元器件频率元素都是通过网络校准程序计算出来的完整频率下的电路,短路和校准电阻范围,确定石英晶振参数通过复杂的数学算法进行测量数据,不同的测试夹具和额外的必须使用元素,用于确定负载共振参数或物理共补偿,真正的问题是找到标准化测量方法之间的良好相关,以及在石英晶体中的应用要求,振荡器和滤波器,其中石英晶体才是电路的阻抗和驱动水平对象.

近几年来,应用现代网络分析仪与EROR校正方法相结合,实现了晶体单元L6的测量，取得了重大进展,在准确性和重现性方面具有重要的意义,本文提出了一种将新技术应用于伪响应测量的系统方法,目标是使用标准测试集(如n网络或s参数测试夹具)作为1t用于确定主模式l51的晶体参数,所有的石英晶体参数都可以用一种独特的设置配置来测量,对虚假应答模式的分类,不想要的或不需要的模式有着不同的起源和外观,它们可以是(I)相同振动模式(通常是剪切模式)的非谐共振,其频率一般高于相关主振型ISEE(图1)108p,这些共振由方程+tvesn.Cцm2sCsp21+у12)其它振动模式的不想要的模式(及其泛音)决定,它可以位于所需模式的下面或上面.

在基波模式的频率扫描中,各种调制物的X射线照相术(2i·0平面)激发?,圆形,AT·切割谐振器,第一个峰,nt3.2miz,是主要的模式,NLL是不需要的鼹鼠,暗耳对应于高位移振幅,因此可以看作是一个独立的峰值,不必要的模式可能会引起问题(A)在滤波器的传输特性扭曲的传输特性的通带或停止带:衰减"倾斜"和相位失调在通带,衰减在停止带ca,WubeTuE(b1万亿石英振荡器,工作频率可以"跳转到一个强烈的不想要的模式,或者频率响应可以显示不连续的"活动下降"),在部分操作条件下,负载"容量/牵引电压,驱动-IeveD"),VCXO可以显示"倾斜"TNS的拉力特性(频率与抽放声压),或Tn对调制频率的响应,TCXO可以在频率与温度的特性上显示"下降".

温度补偿晶振等效电路非耦合谐振可以用并联于静态电容Co的分离的SENS谐振周期来表示,在发光过程中,我们用色浆钴作为电容,用于第一个(mainj模式和Lc)的运动参数的L.Cq.R,Rwithi2,3,4用于第一(杂散)模式(见图2),共振,whích是机械耦合的,必须用诸如变压器或等价键耦合器等声切表示电学性质,例如,在δ-或星型中的三个电容感应器,其中一个或两个可能具有复式元素值,图3概述了可能的电路.

由于TTS在实际应用中的重要性[一次制造混合变压器.],这种方法很流行,但是它也有明显的缺点:(1)即使是UFC,也是补偿的(C_=CJ),它并没有消失:有源晶振的出现有两倍的TTS值,并联:与源和I负载终止电阻平行,因此,最小衰减1s的频率不完全等于共振频率,以及用nèglingc公式计算的共振电阻,这是通常的做法,是错误的(2)接近主响应的杂散共振不能很好地表征,"dB"或"微分dB"值不能直接转换为电阻值或运动参数,(3)与混合变压器有关的几个问题,必须具有平坦的频率响应.

低绕组电容,低杂散电感,完美耦合和对称性在宽的频率范围内,因为这个crlUcal部分不能在商业上获得,所以它的重复性很差,(4)手动测量OSC晶振是非常耗时的,因为有必要在每个共振附近缓慢地扫描,以获得足够的精度,如果在[4]中提出的在50Q环境中嵌入的180个混合耦合器取代混合变压器,则可以克服Tn(3)项的缺点,这并不能消除上述问题:问题(1),(2)和(4),+较强的响应也可以用传统的n-网络方法测量,但是测量误差越大,马刺越弱,越接近主模.

结论提出了一种本文所提出的测量方法是基于网络分析仪或等效电路的测试装置概念,并结合误差校正技术,介绍了网络分析仪的使用,在感兴趣的频率范围内测量短路,开启和基准电阻,通过感兴趣的频率范围向上(增加频率)和向下至少有上百个数据点,另外,网络分析器的内部搜索功能也可以使用更高的频率分辨率,为了提高高灵敏度晶振效率,平均几次清扫就会减少射频带宽和视频带宽,直接测量振幅和相位的技术.